二极管浪涌电流测试仪

二极管浪涌电流测试仪
ST-Surge1500A

用于测试 二极管以及IGBT&MOSFET内置二极管的浪涌电流参数 ?ITSM / IFSM
电流1500A输出，3000V的反压输出

一、概述

? ? ? ?二极管浪涌电流测试仪适用于对二极管以及IGBT内部的续流二极管器件进行浪涌电流（ITSM/IFSM）的试验，在电流施加结束后再施加规定的反压，以验证器件承受浪涌电流的能力。试验方法符合国际电工委员会IEC标准及JB/T7标准。
? ? ? ?本设备浪涌电流及反向电压、电流等均采用采用数字式显示，具有测试范围大、重复性好，操作方便、使用效率高等特点。

二、技术指标

浪涌电流（ITSM / IFSM）测试范围：20A~1500A，连续可调；
浪涌电流（ITSM / IFSM）根据精度要求分为两档：

20A～100A时， 显示分辨率0.1A? 精度±5%；
100A～1500A时，显示分辨率1A??? 精度±5%；
浪涌电流（ITSM / IFSM）波形：近似正弦波；
浪涌电流底宽：8.3ms及10ms两档选择；
测试频率：1~99次（注：可间隔性发射99次，但每次均是1个脉冲信号。间隔时间5s~50s之间自由调节）
反向电压（VRRM）测试范围：200～3000V；
反向电压（VRRM）显示分辨率10V，精度±5%；
反向电压频率：50Hz正弦半波；?
三、治具部分

??? ??3.1、热板型测试治具
温度范围：室温~150℃
温控范围：75.0~150.0℃，分辨率0.1℃；精度±1.5℃；
连接方式：基于温控热板的基础上提供2种连接方式。1、线缆螺栓式。2、接插式。
四、原理说明：
半导体器件在工作时，有时要承受较大的冲击电流，器件的用途不同，要求器件能承受浪涌电流的能力也不同，为了检测器件承受浪涌电流的能力，可产生一个大的浪涌电流施加于被测器件上，从而检测被测器件是否能承受大浪涌电流的冲击，二极管浪涌电流测试仪就可以完成此任务。
五、控制系统
数据采集方式：计算机自动采集。
显示方式：计算机显示
计算机控制时，其原理框图如下图所示，主电路原理与手动测试一致，所有的设定及显示均有计算机完成，每次测试电流及施加的反向电压值均有计算机自动采集并记录。
六．服务

1．免费质保期一年，保修期内除用户人为原因造成的故障外，我公司提供免费维护；
2．我公司在接到用户设备报障信息后，在2小时内对客户做出反应，如需现场处理，省内24小时，省外72小时到位。
3．产品过质保期后，我公司长期提供备品、备件和技术支持服务；产品出现故障需更换配件，我公司只收配件工本费，免收人工费。
4· ? 二极管浪涌电流测试仪厂家。
产品系列
晶体管图示仪
半导体分立器件测试筛选系统
静态参数（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
动态参数（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
环境老化（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
热特性（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件